表面污染检测系统用于板状元件生产过程中,测试工件表面沾污(α射线)水平,具有手动/全自动测量、精度高、检测范围大等特性。
表面污染检测系统
技术参数
检测下限 | 检测下限<5μg/㎡,置信概率75% |
---|---|
检测范围 | 根据用户需求定制 |
检测时间 | 3min |
探测效率 | 针对为20%的铀源(活性区Φ70mm),2π探测效率≥35% |
固有本底计数率 | ≤3cpm(24h) |
仪器稳定性 | ≤10%(24h) |
表面污染检测系统用于板状元件生产过程中,测试工件表面沾污(α射线)水平,具有手动/全自动测量、精度高、检测范围大等特性。
检测下限 | 检测下限<5μg/㎡,置信概率75% |
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检测范围 | 根据用户需求定制 |
检测时间 | 3min |
探测效率 | 针对为20%的铀源(活性区Φ70mm),2π探测效率≥35% |
固有本底计数率 | ≤3cpm(24h) |
仪器稳定性 | ≤10%(24h) |